1. БГУИР г.Минск
2. Белостокский технический университет Белосток, ул. Вейска, 45A

УДК: УДК 004.33.054

Реферат:

Анализируются методы тестирования современных запоминающих устройств, в том числе оперативных запоминающих устройств (ОЗУ), обосновывается применение псевдоисчерпывающих тестов для обнаружения сложных неисправностей памяти. Формулируется необходимое условие ге-нерирования псевдоисчерпывающего теста для заданного количества запоминающих ячеек ОЗУ. По-казывается, что задача генерирования псевдоисчерпывающего теста на базе многократных тестов ОЗУ с изменяемыми адресными последовательностями сводится к комбинаторной задаче собирате-ля купонов. Приводятся оценки минимальной, максимальной и средней кратности многократного теста для обеспечения исчерпывающего множества комбинаций для заданного числа ячеек ОЗУ, что подтверждает возможность формирования псевдоисчерпывающего теста для заданного числа ячеек ОЗУ.