Информация о статье журнала "Информатика"
Встроенная аппаратура неразрушающего самотестирования для схем ОЗУ на основе локально-симметричных тестов'
Ярмолик С. В.
1
,
Занкович А. П.
1
- БГУИР г.Минск
УДК: 681.326.7
Статья поступила: 10.06.2005
Реферат:
Дается сравнительный анализ нескольких схем встроенной аппаратуры самотестирования оперативных запоминающих устройств (ВАСТ ОЗУ). Рассмотренные ВАСТ ОЗУ отличаются слож-ностью реализуемых тестов, количеством использованных сигнатурных анализаторов и количест-вом обнаруживаемых неисправностей. Предлагается алгоритм поиска минимального количества сигнатурных анализаторов, необходимых для реализации новых локально-симметричных тестов в виде ВАСТ ОЗУ, и генерации последовательности их использования.
|