1. БГУИР г.Минск

УДК: 681.327.2.06

Реферат:

Рассматривается проблема описания моделей функциональных неисправностей оперативных запоминающих устройств при помощи языка VHDL. Предлагается методика внедрения моделей функциональных неисправностей ОЗУ в проектные описания цифровых устройств на языке VHDL. Показывается, что предложенная методика может быть применена для оценки поведения цифрово-го устройства при наличии в нем дефектов, а также для верификации алгоритмов тестирования и контроля ОЗУ.