Информация о статье журнала "Информатика"
Реферат
Полный текст статьи
Полный текст статьи не доступен
Моделирование неисправностей в структурах СБИС на языке VHDL' Золоторевич Л. А. 1

  1. Белорусский государственный университет Минск

УДК: 519.873:519.718.7

Статья поступила: 25.11.2004

Реферат:

Рассматривается проблема моделирования неисправностей СБИС и устройств цифровой электроники, представленных на структурном уровне на языке VHDL. Дается анализ эффективно-сти предлагаемых решений.