1. БГУИР г.Минск

УДК: 621.382

Реферат:

Предлагается подход к определению тестовых наборов для обнаружения неисправностей ад-ресных линий оперативных запоминающих устройств (ОЗУ). Приведенные в статье теоретические и экспериментальные результаты показывают, что данный подход позволяет существенно сокра-тить количество тестовых наборов, необходимых для обнаружения всех неисправностей адресных линий ОЗУ, по сравнению с существующими маршевыми алгоритмами.